Autor
Dietrich Gall, U. Krüger; F. Schmidt; St. Wolf
Kurzfassung
Die lichttechnische Bewertung von komplexen Informationsdarstellungen stellt sehr komplexe Anforderungen an einzusetzende Messsysteme. Oft ist die Kenntnis der Leuchtdichteverteilung im gesamten Sehfeld oder zumindest in vielen ausgewählten Teilen des Sehfeldes notwendig. Mit einer punktweise arbeitenden Messtechnik sind solche Bewertungen nur sehr zeitaufwendig, nur in einem groben Raster oder gar nicht zu bewältigen. Durch die Entwicklung von hochwertigen digitalen CCD-Matrixkameras ist die Möglichkeit geschaffen worden, bildauflösende Messsysteme zu realisieren, die solche komplexen Messprobleme lösen.
Beitrag
Die Komplexität der Informationen, die vom Menschen erfasst werden muss, steigt ständig an. Im gleichen Maße erhöhen sich die Anforderungen an lichttechnische Baugruppen. Die lichttechnische Bewertung von diesen Systemen stellt sehr komplexe Anforderungen an einzusetzende Messsysteme. Oft ist die Kenntnis der Leuchtdichteverteilung im gesamten Sehfeld oder zumindest in vielen ausgewählten Teilen des Sehfeldes notwendig. Mit einer punktweise arbeitenden Messechnik sind solche Bewertungen nur sehr zeitaufwendig, nur in einem groben Raster oder gar nicht zu bewältigen. Durch die Entwicklung von hochwertigen digitalen CCD-Matrixkameras ist die Möglichkeit geschaffen worden, bildauflösende Messsysteme zu realisieren, die solche komplexen Messprobleme lösen. Dies erfordert die genaue Untersuchung der Parameter dieser Systeme und die Einordnung in Kategorien vorhandener Lichtmesstechnik.
Die bildauflösende Leuchtdichtemesstechnik vereinigt die Erfassung photometrischer Größen mit den Algorithmen der Bildverarbeitung zur Gewinnung geometrischer Daten. Sie realisiert eine neue Leuchtdichteanalytik, die die komplexe Erfassung und Bewertung z.B. von Leuchtdichteverteilungen an Displays in eleganter Weise lösen kann. Für Reflektorberechnungen werden
komplexe Strahlenmodelle der Leuchtmittel, für Planungen im Nahfeld an die Geometrie des Raumes angepasste Planungsdaten (Nahfeld-LVK) zur Verfügung gestellt. Die Messung von Blendsituationen und die Berechnung von UGR-Werten wird damit überhaupt
erst ermöglicht.
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